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          • AREX L 殘余奧氏體分析
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          產品名稱:

          AREX L 殘余奧氏體分析

          產品型號:
          更新時間: 2023-12-19
          品牌:
          生產地址:
          X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法,而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 ASTM E975 的X射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法,ARE X 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量,同時具有良好的檢出限、精度高、度好等優點,并且操作簡單,安全高效。
          • 詳細內容

          X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法,而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 ASTM E975 的X射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法,AREX L 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量,同時具有良好的檢出限、精度高、度好等優點,并且操作簡單,安全高效。

          主要特點

          1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度,符合 ASTM E975 標準;
          2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優化取向帶來的影響;
          3、使用精密的自動反饋控制電路獲得很高的X射線發生器穩定性;
          4、自動調整高電壓與電流輸出脈動值;
          5、配備大功率、的玻璃(陶瓷)X 射線管;
          6、高聚焦單毛細管準直器,高分辨率CCD探測器。


           

           

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